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上海普申C84-III反射率测定仪 建筑涂膜遮盖力测量仪

上海普申C84-III反射率测定仪 建筑涂膜遮盖力测量仪

简要描述:
主要用于建筑涂料涂膜遮盖力的测定和反射率的测量。

更新时间:2018-06-03

访问量:535

厂商性质:经销商

生产地址:上海

 

   产品名称

 型 号

出厂价

搅拌砂磨分散机变频

JSF-550

4800

搅拌砂磨分散机

JSF-450

4200

搅拌分散机变频

WJ-1.5

9500

涂料快速分散机

蓝魔鬼

10500

平磨仪

PM-240D

9500

锥形磨

QZM

3600

三辊研磨机(水冷)

SG65

4400

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AFA-II

12600

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JTX-II

4500

划圈干燥时间测定仪

QT-I

3600

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GZY-I

4200

UV能量仪

UV-140

3800

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7500

数显光泽度仪免充电

WGG-60

1500

数显光泽度仪充电

WGG-60

2000

数显光泽度仪智能

WGG-60

2900

数显光泽度仪智能

WGG-20/60

3600

数显光泽度仪智能

三角度

5800

反射率测定仪

C84-III

3800

C84-Ⅲ 反射率测定仪按GB/T 13452.3、GB/T 9270、GB/T 5211.17、ISO3906(E)设计,主要用于建筑涂料涂膜遮盖力的测定和反射率的测量。本仪器由探头、主机、标准板(黑白各一块)。工作陶瓷版(黑白各二块)等组成。探头采用0°照射、漫反射的原理。当试样的反射光作用于硒光电池表面时产生电信号输入直流放大器进行放大,并予以读数显示。
主要技术参数:
■  测量范围:0~100
■  输入电源:220V,50Hz
■  重复精度:0.3%,示值误差±1
■  配置标准黑色陶瓷板和标准白色陶瓷板各一块
■  订购信息:
 C84-Ⅲ 反射率测定仪
标准聚酯膜片(150mm×100mm×50µm;100片/包)
半黑半白卡纸  /  黑白格纸         

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